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[00257497]测试电路、晶圆、测量装置、元件制造方法以及显示装置

交易价格: 面议

所属行业: 微电子

类型: 专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:200580049186.9

交易方式: 完全转让

联系人: 张耀伟

进入空间

所在地: 辽宁 沈阳市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述

技术详细介绍

  一种测试电路,包括:多个被测量晶体管,电性地并联设置;选择部,依次选择各个被测量晶体管;以及输出部,依次输出选择部所依次选择的被测量晶体管的源极电压。

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